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當(dāng)前位置:首頁(yè)  >  產(chǎn)品中心  >  晶圓缺陷檢測(cè)  >  LAZIN  >  LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

GlassWafe缺陷檢查裝置

簡(jiǎn)要描述:LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

  • 產(chǎn)品型號(hào):LODAS™ – BI12
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 產(chǎn)品資料:
  • 更新時(shí)間:2024-11-09
  • 訪  問(wèn)  量: 1219

詳細(xì)介紹

列真株式會(huì)社自創(chuàng)業(yè)以來(lái),秉承“挑戰(zhàn)"、“創(chuàng)造"、“誠(chéng)實(shí)"的經(jīng)營(yíng)理念,為顧客提供可靠、可信的產(chǎn)品和服務(wù)。運(yùn)用激光掃描技術(shù),專(zhuān)門(mén)制造、銷(xiāo)售半導(dǎo)體材料表面及內(nèi)部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。


特征:

  • Glass Wafer的出貨檢查、過(guò)程評(píng)價(jià)

  • 可同時(shí)檢查表面,背面和內(nèi)部的缺陷

  • 用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷

  • 檢查對(duì)象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer

  • 檢查項(xiàng)目:表面和背面的顆粒、內(nèi)部缺陷

列真公司檢查裝置的維護(hù)、修理

  • 定期支持裝置安裝完成后的性能維持。

  • 24小時(shí)電話對(duì)應(yīng),全年無(wú)休的安心支持。

  • 認(rèn)真對(duì)待客戶新的要求。

  • 召開(kāi)技術(shù)研討會(huì)和充實(shí)各種手冊(cè),讓顧客能夠自行維護(hù)和更換零件。

  • 提供HDD、激光光源等消耗品的免費(fèi)診斷服務(wù)。


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