此客戶是一家面向第三代半導體藍寶石上氮化鎵（GaN on Sapphire）技術的專業(yè)襯底材料供應商。公司根據(jù)不同的芯片應用領域及其外延技術特征進行適配的襯底材料開發(fā)，通過圖形化結(jié)構設計、不同材料組合應用、工藝制程實現(xiàn)等，為氮化鎵器件提供襯底材料綜合解決方案。

目前，公司主要產(chǎn)品包括2至6英寸圖形化藍寶石襯底（PSS）、圖形化復合材料襯底（MMS），主要應用于照明、顯示、背光源、Mini/Micro LED、深紫外LED等領域。公司建立了廣東省半導體襯底工程技術研究開發(fā)中心，圍繞下一代GaN先進光電子器件技術進行襯底與外延一體化研發(fā)，開展GaN功率器件用藍寶石襯底等技術研究。

FR-Scanner膜厚測量儀是波長范圍在370-1020nm的可見光干涉測量，能夠測量12nm-100um范圍的膜層厚度，準確度高達0.1%或1nm，精度為0.02nm，是一款平臺位移精度高，實現(xiàn)多點Mapping測量功能的膜厚測量設備，基于8“樣品最快測量速度可達300點每分鐘。