當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 晶圓厚度測量 > 硅片厚度測量儀
產(chǎn)品分類
晶圓厚度測量
查看全部產(chǎn)品
相關(guān)文章
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進的光學器件,F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部