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F2-RT 光譜反射和透射測量系統(tǒng)是美國Filmetrics新推出的物超所值同時測量反射率和透射率的儀器。
Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標光譜與多條反射光譜比較 – 自動評估反射率,*小/*大位置,并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀數(shù)和計算誤差。
Filmetrics 自動化厚度測量儀能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,一般較短的波長 (例如, F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
Filmetrics 薄膜厚度測量儀F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件*的先進模擬演算法的設計,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。
不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)ilmetrics薄膜厚度測量儀F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。